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pct高壓加速老化試驗(yàn)箱LED光源衰退的原因分析
更新時(shí)間：2016-06-02 點(diǎn)擊次數(shù)：684次
pct高壓加速老化試驗(yàn)箱LED光源衰退的原因分析
pct高壓加速老化試驗(yàn)箱是測(cè)驗(yàn)半導(dǎo)體封裝之濕氣才能，待測(cè)商品被置于苛刻之溫度、濕度及壓力下測(cè)驗(yàn)，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口進(jìn)入封裝體，多見(jiàn)之毛病方法為自動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕形成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染形成短路等。
LED具有低電壓、低能耗、長(zhǎng)壽數(shù)、高可靠性、易保護(hù)等長(zhǎng)處,已變成照明職業(yè)的干流。盡管LED光源已逐漸替代別的光源變成照明職業(yè)的干流，但其壽數(shù)及其可靠性仍有待進(jìn)步，這已變成現(xiàn)階段的研討要點(diǎn)。
LED光源可靠性一般采納pct高壓加速老化試驗(yàn)箱進(jìn)行一個(gè)溫度加速老化實(shí)驗(yàn)，在LED樣品實(shí)驗(yàn)中跟著老化時(shí)刻的增加，會(huì)產(chǎn)生光衰退，而產(chǎn)生光闌珊的因素有熒光粉、硅膠以及芯片的衰減。
pct高壓加速老化試驗(yàn)箱是測(cè)驗(yàn)半導(dǎo)體封裝之濕氣才能，待測(cè)商品被置于苛刻之溫度、濕度及壓力下測(cè)驗(yàn)，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口進(jìn)入封裝體，多見(jiàn)之毛病方法為自動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕形成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染形成短路等。
LED具有低電壓、低能耗、長(zhǎng)壽數(shù)、高可靠性、易保護(hù)等長(zhǎng)處,已變成照明職業(yè)的干流。盡管LED光源已逐漸替代別的光源變成照明職業(yè)的干流，但其壽數(shù)及其可靠性仍有待進(jìn)步，這已變成現(xiàn)階段的研討要點(diǎn)。
LED光源可靠性一般采納pct高壓加速老化試驗(yàn)箱進(jìn)行一個(gè)溫度加速老化實(shí)驗(yàn)，在LED樣品實(shí)驗(yàn)中跟著老化時(shí)刻的增加，會(huì)產(chǎn)生光衰退，而產(chǎn)生光闌珊的因素有熒光粉、硅膠以及芯片的衰減。
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