廣東艾思荔檢測儀器有限公司

　　Hast非飽和型老化試驗箱可做高溫高濕高壓、雙85試驗等測試，用于電子原器件，LED封裝，芯片(IC)、集成電路、半導體等檢測產品性能之用。

　　【Hast非飽和型老化試驗箱安全保護裝置】

　　艾思荔采用三道高溫保護裝置、溫度用水斷水保護與電熱斷水空焚保護、機臺停機時自動排除飽和蒸氣壓力、氣動機構壓力保護等，完善的保護裝置，保障實驗室與操作人員安全。

　　【Hast非飽和型老化試驗箱設備質量性能】

　　工藝技術品質好，耐磨性強，設備性能穩(wěn)定，使用壽命可達20年。

　　【Hast非飽和型老化試驗箱新技術*優(yōu)勢】

　　優(yōu)的溫濕度jing密控制邏輯，防止待測品潮濕與結露的模式選擇壓力值采實際感應偵測，確保溫度、濕度及壓力值準確度。

　　可選購多個BIAS電壓端子：符合JESD22-A110之實驗規(guī)范要求，模擬待測品在高溫、高濕環(huán)境下，加載大式作電壓，檢測內部封裝模塊材料接合與保護層的滲透，并且觀察是否造成遷移。

　　【合作案例】濟南半導體研究所、廣州賽寶、北京航空航天大學、華為技術、中北大學、NEC電子、北京協(xié)同創(chuàng)新研究院、比艾奇、訊芯等等企業(yè)。