環(huán)境高低溫測試試驗箱技術(shù)用途：

     電子電器零組件、金屬、化學(xué)材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化的理想測試工具.

環(huán)境高低溫測試試驗箱技術(shù)技術(shù)規(guī)格

◥型號：TS-408

◥內(nèi)箱尺寸：40×35×30cm 

◥高溫槽溫度范圍：RT-100℃

◥低溫槽濕度范圍：-40℃～-10℃

◥試驗箱沖擊溫度：高溫:RT-100℃ ；低溫: -10℃～-40℃

◥升溫時間：RT-100℃約需15分鐘

◥降溫時間：RT～-40℃約需60分鐘

◥沖擊時間:0.1～999.9小時,循環(huán)周期1～9999可設(shè)定.

◥沖擊恢復(fù)時間：高溫（100℃）沖擊30分鐘,低溫（-40℃）沖擊30分鐘；沖擊恢復(fù)時間:5分鐘以內(nèi).

◥試樣重量：1.5kg

◥結(jié)構(gòu)材質(zhì)：全機為SUS不銹鋼板霧面處理，內(nèi)箱為SUS#304鏡面不銹鋼

◥冷凍系統(tǒng)：復(fù)疊水冷式歐美*全封閉或半密閉式壓縮機組.

◥控制器：大型LED彩色觸控人機界面控制器or單顯LED觸控人機接口控制器.

◥安全保護裝置：無熔絲過載保護器，壓縮機過熱、過流、超壓、加熱干燒、箱內(nèi)超溫警報系統(tǒng).

◥配   件：測試孔（φ50×1只），試料架（2組）

環(huán)境高低溫測試試驗箱技術(shù)特點

　◥環(huán)境高低溫測試試驗箱技術(shù)（三箱）的三箱設(shè)備區(qū)分為：高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，測試產(chǎn)品置于測試區(qū)，沖擊時高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進行沖擊, 測試產(chǎn)品為靜態(tài)式。

　◥采用觸控式圖控操作介面，操作筒易。

　◥沖擊方式應(yīng)用風(fēng)路切換方式將溫度導(dǎo)入測試區(qū)，做冷熱沖擊測試。

　◥高溫沖擊或低溫沖擊時，大時間可達999H，大循環(huán)周期可達9999次。

　◥系統(tǒng)可作自動循環(huán)衙擎或手動選擇性沖擊并可設(shè)定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。

　◥冷卻采二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為水冷式

環(huán)境高低溫測試試驗箱技術(shù)特性:

◥全新歐美之防爆把手,的造型設(shè)計,外觀質(zhì)感高水準(zhǔn).

◥采用大型人機觸控對話式LED人機接口控制器,操作簡單,學(xué)習(xí)容易,穩(wěn)定可靠.

◥沖擊方式采用風(fēng)格切換方式,將冷、熱溫度導(dǎo)入測試區(qū)實現(xiàn)冷熱沖擊測試目的.

◥沖擊時間0.1～999.9小時,循環(huán)周期1～9999次可設(shè)定.

◥可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動（手動）除霜.

◥運轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線,異常及故障點顯示說明及排除方法.

◥歐美原裝高效率復(fù)迭壓縮冷凍機組,運轉(zhuǎn)噪音地，省能源之設(shè)備

◥采用PID自動演算控制功能,溫度控制精度高

◥可作自動循環(huán)沖擊或手動選擇性沖擊并可選擇二槽或三槽式冷沖、熱沖進行沖擊.

◥可獨立擔(dān)當(dāng)高溫箱或低溫箱使用,一機三用.

◥采用對臭氧系數(shù)為零的綠色環(huán)保（HFC）制冷劑R404、R23.

環(huán)境高低溫測試試驗箱技術(shù)（三箱）執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗方法

◥GJB150.5 溫度沖擊試驗

◥GJB360.7溫度沖擊試驗

◥GB/2423.22 溫度沖擊試驗

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